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發(fā)布時(shí)間:2024-12-131032次瀏覽
一、外觀檢查
探頭表面查看探頭的磨損情況。如果探頭表面有明顯的劃痕、凹坑或磨損痕跡,可能會(huì)影響超聲波的發(fā)射和接收。例如,在檢測(cè)粗糙表面的材料后,探頭表面可能會(huì)被磨花,這會(huì)降低探頭與被檢測(cè)材料之間的耦合效果,進(jìn)而影響探傷性能。
檢查探頭表面的保護(hù)膜是否完好。有些探頭帶有保護(hù)膜,若保護(hù)膜破裂或脫落,可能導(dǎo)致探頭受到污染或損壞。
連接部分檢查探頭與銅山探傷儀主機(jī)連接的插頭和插座。查看插頭是否有彎曲、折斷的插針,插座內(nèi)的針孔是否變形或堵塞。如果連接部分出現(xiàn)這些問題,可能會(huì)導(dǎo)致信號(hào)傳輸不穩(wěn)定或中斷,影響探頭的正常使用。
檢查連接電纜是否有破損、斷裂或外皮磨損的情況。電纜破損可能會(huì)導(dǎo)致內(nèi)部信號(hào)線短路或斷路,使探頭無法正常工作。
二、性能測(cè)試
靈敏度測(cè)試準(zhǔn)備一個(gè)已知的標(biāo)準(zhǔn)試塊,該試塊具有特定的人工缺陷(如平底孔、橫孔等),其尺寸和位置是已知的。將銅山探傷儀設(shè)置為合適的參數(shù),如適當(dāng)?shù)念l率、增益等。
使用疑似損壞的探頭在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行檢測(cè),觀察銅山探傷儀顯示屏上的信號(hào)。如果信號(hào)幅值明顯低于正常探頭檢測(cè)時(shí)的幅值,可能說明探頭靈敏度下降。例如,正常情況下,使用合格探頭在標(biāo)準(zhǔn)試塊的特定平底孔處檢測(cè)能得到幅值為 80% 滿屏的信號(hào),而疑似損壞探頭檢測(cè)得到的幅值只有 30% 滿屏,那么該探頭的靈敏度可能出現(xiàn)了問題。
分辨率測(cè)試同樣使用標(biāo)準(zhǔn)試塊,試塊上有相鄰較近的人工缺陷(如兩個(gè)相隔一定距離的平底孔)。用待檢測(cè)探頭在試塊上掃描這兩個(gè)相鄰缺陷,觀察探傷儀能否清晰地分辨出兩個(gè)獨(dú)立的信號(hào)。
如果兩個(gè)信號(hào)無法清晰分辨,出現(xiàn)信號(hào)重疊或者模糊的情況,可能表示探頭的分辨率下降。正常的探頭在檢測(cè)間隔適當(dāng)(如相隔 2mm)的平底孔時(shí),應(yīng)該能夠在顯示屏上顯示出兩個(gè)獨(dú)立的反射波峰。
聲軸偏移測(cè)試在標(biāo)準(zhǔn)試塊上有一條已知的聲軸校準(zhǔn)線(通常是通過精密加工或校準(zhǔn)得到的)。將探頭放置在試塊上,按照正確的操作方法使探頭對(duì)準(zhǔn)聲軸校準(zhǔn)線,觀察探傷儀顯示屏上的信號(hào)。
如果信號(hào)最強(qiáng)點(diǎn)偏離了校準(zhǔn)線對(duì)應(yīng)的位置,可能說明探頭的聲軸發(fā)生了偏移。這會(huì)導(dǎo)致在實(shí)際檢測(cè)中對(duì)缺陷位置的判斷出現(xiàn)偏差,影響探傷結(jié)果的準(zhǔn)確性。
三、信號(hào)穩(wěn)定性測(cè)試
波形穩(wěn)定性將探頭固定在一個(gè)穩(wěn)定的位置,對(duì)一個(gè)簡(jiǎn)單的測(cè)試對(duì)象(如一塊均勻的金屬板)進(jìn)行檢測(cè)。觀察探傷儀顯示屏上的波形是否穩(wěn)定。
如果波形出現(xiàn)頻繁的跳動(dòng)、抖動(dòng)或者幅值忽大忽小的情況,可能是探頭內(nèi)部元件不穩(wěn)定或者連接不良導(dǎo)致的。正常情況下,在穩(wěn)定的檢測(cè)環(huán)境中,波形應(yīng)該是相對(duì)穩(wěn)定的,只有微小的噪聲波動(dòng)。
噪聲水平測(cè)試在沒有檢測(cè)對(duì)象(探頭懸空)的情況下,開啟探傷儀,觀察顯示屏上的噪聲信號(hào)。然后將探頭與一個(gè)良好的耦合材料(如耦合劑涂抹后的光滑金屬塊)接觸,再次觀察噪聲信號(hào)。
如果噪聲信號(hào)明顯高于正常探頭的噪聲水平,可能說明探頭內(nèi)部存在問題,如壓電晶體老化、屏蔽不良等。正常的探頭在良好的耦合條件下,噪聲信號(hào)應(yīng)該是比較低的,不會(huì)對(duì)檢測(cè)信號(hào)造成明顯干擾。
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